型號XD7500VR
檢測面積458MM x 407MM
尺寸1450 x 1700 x 1970mm
電源單相 200-230V/16A
重量1900KG
上海東時貿(mào)易有限公司回收二手SMT設(shè)備,貼片機(jī)回收,回流焊回收,波峰焊回收,印刷機(jī)回收,AOI回收,SPI回收,X-RAY回收,型號不限,高價現(xiàn)款回收,上門服務(wù),現(xiàn)場估價,中介重酬。
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基本優(yōu)化
每塊PCB可以采用光學(xué)或者X-ray技術(shù)并運(yùn)用適當(dāng) 的運(yùn)算法則來進(jìn)行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當(dāng)一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實(shí)際經(jīng)驗(yàn)和系統(tǒng)化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計來預(yù)防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設(shè)計,可以運(yùn)用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領(lǐng)域被推崇),它的優(yōu)點(diǎn)包括:
減少編程時間
限度地減少誤報 改善失效檢查。
制定設(shè)計方針,可以有效地簡化檢查和顯著地降低生 產(chǎn)成本。Viscom AG 和 KIRRON GmbH &Co KG 合作開發(fā) 出一項(xiàng)測試方案,目的是為了從根本上研究和這 些設(shè)計在檢查中產(chǎn)生的效果?;贗PC-7350標(biāo)準(zhǔn)的PCB布 局被推薦為針對這些測試的基準(zhǔn)。先,為了探究每一種 布局的檢查效果,建議在大量PCB布局上采用這種基準(zhǔn); 之后,再有意地利用PCB錯誤布局,使得它產(chǎn)生一些工藝 中的缺陷,如立碑和引腳懸空等。
布局建議
針對AOI檢查的PCB整體布局
器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm(0.12”)的工 藝邊。片式器件必須優(yōu)先于圓柱形器件。布局上建議考慮 傳感器技術(shù),因?yàn)橛袝r檢查只能通過垂直(正交)角度,而其他時候又需要一個的角度來進(jìn)行。

SMT貼片機(jī)機(jī)器保養(yǎng) 修理
1,貼片機(jī)維修:迅速排除機(jī)器故障,快速恢復(fù)生產(chǎn)
2,貼片機(jī)精度調(diào)校:使機(jī)器能保證高精度的貼裝品質(zhì)。
3,貼片機(jī)維護(hù)方案:對機(jī)器做、**的診斷,并提出**的維修保養(yǎng)方案。
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長期承接各類SMT貼片機(jī)的安裝調(diào)試.維修.大保養(yǎng).小保養(yǎng)等服務(wù)!如:松下貼片機(jī)維修保養(yǎng)、富士貼片機(jī)維修保養(yǎng)、西門子貼片機(jī)維修保養(yǎng)、JUKI貼片機(jī)/索尼貼片機(jī)/YAMAHA雅馬哈貼片機(jī)/三星貼片機(jī)等二手貼片機(jī)的維護(hù)保養(yǎng)等。

AOI(Automated Optical Inspection縮寫)的中文全稱是自動光學(xué)檢測,是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測試技術(shù),但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。當(dāng)自動檢測時,機(jī)器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來,供維修人員修整。
運(yùn)用高速高精度視覺處理技術(shù)自動檢測PCB板上各種不同貼裝錯誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實(shí)現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。

上面的測試方法是針對立的器件,而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響,使Ix笽ref,測試時必須加以隔離(Guarding)。隔離是在線測試的基本技術(shù)。
在上電路中,因R1、R2的連接分流,使Ix笽ref ,Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測試時,只要使G與F點(diǎn)同電位,R2中無電流流過,仍然有Ix=Iref,Rx的等式不變。將接地,因F點(diǎn)虛地,兩點(diǎn)電位相等,則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時,通過一個隔離運(yùn)算放大器使G與F等電位。ICT測試儀可提供很多個隔離點(diǎn),消除電路對測試的影響。
1.2 IC的測試
對數(shù)字IC,采用Vector(向量)測試。向量測試類似于真值表測量,激勵輸入向量,測量輸出向量,通過實(shí)際邏輯功能測試判斷器件的好壞。
如:與非門的測試
對模擬IC的測試,可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵電壓、電流,測量對應(yīng)輸出,當(dāng)作功能塊測試。
非向量測試
隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展,超大規(guī)模集成電路的使用,編寫器件的向量測試程序常?;ㄙM(fèi)大量的時間,如80386的測試程序需花費(fèi)一位熟練編程人員近半年的時間。SMT器件的大量應(yīng)用,使器件引腳開路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測試技術(shù),Teradyne推出MultiScan;GenRad推出的Xpress非向量測試技術(shù)。
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