型號(hào)XD7500VR
檢測(cè)面積458MM x 407MM
尺寸1450 x 1700 x 1970mm
電源單相 200-230V/16A
重量1900KG
上海東時(shí)貿(mào)易有限公司是一家從事DAGE、YXLON、島津、SEC、GE鳳凰、善思、日聯(lián)、愛(ài)蘭特等X-RAY檢測(cè)機(jī)X-RAY射線機(jī)無(wú)損檢測(cè)及配件,回收,租賃,銷售,維修,保養(yǎng),培訓(xùn)于一體的科技公司。
結(jié)論
作為慣例,在生產(chǎn)中,測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)當(dāng)根據(jù)生產(chǎn)批量的要 求建立并優(yōu)化。實(shí)際運(yùn)作中無(wú)數(shù)次地,僅這樣做是遠(yuǎn) 遠(yuǎn)不夠的。如果在兩周的生產(chǎn)時(shí)間內(nèi)要測(cè)試一個(gè)新批次的 PCB,有可能會(huì)發(fā)生這樣的情況:ELKO的顏色突然由黑色 變?yōu)榱它S色,或者晶體管的引腳變短了、是彎的;或是電阻的顏色由黃色變成了藍(lán)色的,等等。
AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來(lái) 的問(wèn)題。但是,其中的一些變化需要花費(fèi)時(shí)間進(jìn)行處理, 因?yàn)槲覀儾荒茴A(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用,或 是存在一個(gè)錯(cuò)誤的元器件布局。同時(shí),面對(duì)質(zhì)量方面的困 難,大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個(gè)一致的,確實(shí) 可行的說(shuō)明。
始終采用同樣的材料和產(chǎn)品,再加上優(yōu)化的PCB設(shè)計(jì), 正如上面所描述的那樣,可以減小由于產(chǎn)品的變更對(duì)AOI/ AXI測(cè)試所造成的影響。在這里必須指出,比照所有用于 AOI和AXI 檢查的標(biāo)準(zhǔn),PCB布局的建議可使檢查工藝適當(dāng) 簡(jiǎn)化并更有效率。DFT可以提高缺陷的檢查率,減少誤報(bào), 縮短編程時(shí)間和降低編程的難度,從而終達(dá)到有效降低 產(chǎn)品制造成本的目的。

FrameScan電容藕合測(cè)試
FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開(kāi)。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭,在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào),電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示:
1 夾具上的多路開(kāi)關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。
2 測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板(ATB)依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。
3 電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。
4 ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的,就會(huì)測(cè)到信號(hào);如果該管腳脫開(kāi),則不會(huì)有信號(hào)。
GenRad類式的技術(shù)稱Open Xpress。原理類似。
此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件,測(cè)試成本稍高。
邊界掃描技術(shù)
Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)
ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高,功能越來(lái)越強(qiáng),封裝越來(lái)越小,SMT元件的增多,多層板的使用,PCB板元件密度的,要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難,為增加測(cè)試點(diǎn),使制造費(fèi)用增高;同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難,開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此,聯(lián)合測(cè)試組織(JTAG)頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

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DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù)
DeltaScan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號(hào)器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二管,對(duì)被測(cè)器件的立引腳對(duì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的直流電流測(cè)試。當(dāng)某塊板的電源被切斷后,器件上任何兩個(gè)管腳的等效電路如下圖中所示。
1 在管腳A加一對(duì)地的負(fù)電壓,電流Ia流過(guò)管腳A之正向偏壓二管。測(cè)量流過(guò)管腳A的電流Ia。
2 保持管腳A的電壓,在管腳B加一較高負(fù)電壓,電流Ib流過(guò)管腳B之正向偏壓二管。由于從管腳A和管腳B至接地之共同基片電阻內(nèi)的電流分享,電流Ia會(huì)減少。
3 再次測(cè)量流過(guò)管腳A的電流Ia。如果當(dāng)電壓被加到管腳B時(shí)Ia沒(méi)有變化(delta),則一定存在連接問(wèn)題。
DeltaScan軟件綜合從該器件上許多可能的管腳對(duì)得到的測(cè)試結(jié)果,從而得出的故障診斷。信號(hào)管腳、電源和接地管腳、基片都參與DeltaScan測(cè)試,這就意味著除管腳脫開(kāi)之外,DeltaScan也可以檢測(cè)出器件缺失、插反、焊線脫開(kāi)等制造故障。
GenRad類式的測(cè)試稱Junction Xpress。其同樣利用IC內(nèi)的二管特性,只是測(cè)試是通過(guò)測(cè)量二管的頻譜特性(二次諧波)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
DeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件,成為推技術(shù)。
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