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江蘇報(bào)廢N4010A藍(lán)牙測(cè)試儀回收-通用測(cè)量?jī)x器儀表回收
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產(chǎn)品描述

成色皆可 品牌進(jìn)口 價(jià)格面議電議 錢(qián)款當(dāng)面結(jié)清 發(fā)貨周期1~3天
上海東時(shí)貿(mào)易有限公司從事儀器回收已有多年,對(duì)國(guó)外儀器、型號(hào)、回收價(jià)格非常了解。所以您不用擔(dān)心我們出的價(jià)格會(huì)低,我們100根據(jù)二手儀器行情給出合理的回收價(jià)格。在這多年中,我們回收儀器足跡到過(guò)美國(guó)、新加坡、馬來(lái)西亞、北京、上海、山東、青島、江蘇、蘇州、南京、無(wú)錫、常州、浙江、杭州、寧波、臺(tái)州、廣東、深圳、廣州、東莞、佛山、中山、珠海、惠州、福建、福州、廈門(mén)、泉州、廣西、南寧、湖北、武漢、江西、南昌、遼寧、沈陽(yáng)、四川、成都、綿陽(yáng)、云南、昆明、河北、石家莊、甘肅、蘭州、寧夏、青海、等地。
公司主營(yíng)產(chǎn)品:手機(jī)綜合測(cè)試儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、信號(hào)源信號(hào)發(fā)生器、示波器、功率計(jì)、頻率計(jì)、LCR電橋、電源、數(shù)據(jù)采集儀、噪聲系數(shù)分析儀、多用表校準(zhǔn)儀、萬(wàn)用表、天饋線測(cè)試儀安立、溫度記錄儀、邏輯分析儀、色彩分析儀、光波測(cè)量系統(tǒng)、阻抗測(cè)試治具及附件、衰減器等。
主營(yíng):安捷倫、美國(guó)泰克、美國(guó)福祿克、艾法斯、日本菊水、北京普源、閩臺(tái)固緯、德國(guó)惠美、美國(guó)吉時(shí)利、摩托羅拉、美國(guó)力科、美國(guó)韋夫特克、、等國(guó)際、德國(guó)羅德施瓦茨、英國(guó)馬可尼、英國(guó)施倫伯杰、日本安立(安利)
測(cè)試項(xiàng)目
靜電放電耐受性
放射無(wú)線電頻率
電磁場(chǎng)耐受性
電子快速暫態(tài)/叢訊耐受性測(cè)試
突波耐受性
對(duì)無(wú)線電頻率場(chǎng)引發(fā)之傳導(dǎo)干擾之耐受性
功率頻率磁場(chǎng)耐受性
電壓突降,短干擾和電壓漂移耐受性
自適應(yīng)跳頻檢測(cè)功能
自適應(yīng)跳頻選項(xiàng)可對(duì)來(lái)自 WLAN 等的共存互相干擾信號(hào)進(jìn)行分析。當(dāng)干擾被引入后,該選項(xiàng)可以提供對(duì) FER 和掩碼通道的圖形化顯示,以便優(yōu)化硬件設(shè)計(jì)。
江蘇報(bào)廢N4010A藍(lán)牙測(cè)試儀回收
上海東時(shí)貿(mào)易有限公司主營(yíng):銷(xiāo)售、租賃、維修、計(jì)量、回收二手儀器設(shè)備!! 
本公司長(zhǎng)期現(xiàn)金收購(gòu):音頻儀器,視頻儀器,高頻儀器(如基站測(cè)試儀,信號(hào)發(fā)生器,LCR電橋,網(wǎng)絡(luò)分析儀,頻譜分析儀高頻信號(hào)源,無(wú)線電綜合測(cè)試儀、光學(xué)儀器等儀器,)有意者請(qǐng)與本公司聯(lián)系!
R&S®CBT32 藍(lán)牙測(cè)試儀
R&S®CBT Bluetooth® 測(cè)試儀可在跳頻或非跳頻模式下,在所有信道上進(jìn)行藍(lán)牙 RF 測(cè)試。它提供了大量統(tǒng)計(jì)監(jiān)測(cè)和測(cè)量功能。例如,可以設(shè)定每個(gè)測(cè)量值的允許誤差,并在經(jīng)過(guò)一定數(shù)量的測(cè)量之后或超出允許誤差時(shí)停止測(cè)量序列。另外還可針對(duì)用戶(hù)定義的數(shù)據(jù)包數(shù)來(lái)顯示功率軌跡、調(diào)制與頻譜以及平均化的小值或大值軌跡等。
主要特點(diǎn)
? 在研發(fā)過(guò)程中可十分靈活地進(jìn)行故障排除
? 測(cè)量時(shí)間非常短,可實(shí)現(xiàn)高生產(chǎn)能力
? 集成頻譜測(cè)量功能
? 提供了多種音頻選件
? R&S®CBTGo 軟件支持 V1.2/V2.0/V2.0+EDR/V2.1/V2.1+EDR Bluetooth® RF 測(cè)試規(guī)范中所規(guī)定的 18 種Bluetooth® RF 測(cè)試案例
? 提供了經(jīng)濟(jì)實(shí)用的生產(chǎn)型 R&S®CBT32 機(jī)架設(shè)備
? EDR 選件 (R&S®CBT-K55) 在 R&S®CBT Bluetooth® 測(cè)試儀的基礎(chǔ)上增加了大量的EDR 射頻測(cè)試。
Bluetooth® 詞語(yǔ)和徽標(biāo)由 Bluetooth® SIG, Inc.擁有,羅德與施瓦茨公司對(duì)該標(biāo)記的使用已得到許可。其他商標(biāo)和產(chǎn)品名稱(chēng)術(shù)語(yǔ)屬于相應(yīng)的產(chǎn)品擁有者。
發(fā)射機(jī)測(cè)量
? 功率
° 額定功率、峰值功率、泄漏功率
° 功率控制
° EDR:相對(duì)功率
? 定時(shí)
° 分組定時(shí)誤差
° EDR:保護(hù)時(shí)間
? 頻譜
° 20 dB 帶寬、相鄰信道功率 (ACP)、頻率范圍
° EDR:帶內(nèi)雜散(選通 ACP)
? 調(diào)制
° 平均、大和小頻率偏移
° EDR:均方根 DEVM、峰值 DEVM、99% DEVM 
° EDR:差分相位編碼
° EDR:I/Q 星座圖
° EDR:相位差特性
? 頻率 
° 頻率準(zhǔn)確度 (ICFT)、頻率漂移、大漂移率
° EDR:載波頻率穩(wěn)定性 ωi 和 ω0
接收機(jī)測(cè)量
? 基本速率和 EDR 數(shù)據(jù)包的誤碼率 (BER)
? 符合基本速率和 EDR 數(shù)據(jù)包射頻測(cè)試規(guī)范的有擾發(fā)射測(cè)量
? 誤碼率(BER) 搜索功能:用于預(yù)定義 了BER下的 靈敏度測(cè)量
? 分組包差錯(cuò)率 (PER)
? 否定應(yīng)(NAK )率
江蘇報(bào)廢N4010A藍(lán)牙測(cè)試儀回收
R&S CBT 藍(lán)牙測(cè)試儀
R&S.CBT Bluetooth. 測(cè)試儀可在跳頻或非跳頻模式下,在所有信道上進(jìn)行藍(lán)牙 RF 測(cè)試。它提供了大量統(tǒng)計(jì)監(jiān)測(cè)和測(cè)量功能。例如,可以設(shè)定每個(gè)測(cè)量值的允許誤差,并在經(jīng)過(guò)一定數(shù)量的測(cè)量之后或超出允許誤差時(shí)停止測(cè)量序列。另外還可針對(duì)用戶(hù)定義的數(shù)據(jù)包數(shù)來(lái)顯示功率軌跡、調(diào)制與頻譜以及平均化的小值或值軌跡等。
主要特點(diǎn)
. 在研發(fā)過(guò)程中可十分靈活地進(jìn)行故障排除
. 測(cè)量時(shí)間非常短,可實(shí)現(xiàn)高生產(chǎn)能力
. 集成頻譜測(cè)量功能
. 提供了多種音頻選件
. 符合Bluetooth. 1.2, 2.0, 2.1, 3.0 + HS, 4.0, 4.1 和 4.2 的藍(lán)牙設(shè)備射頻測(cè)試
. R&S.CBTGo 軟件支持所有38種Bluetooth. RF 測(cè)試案例
. 提供了經(jīng)濟(jì)實(shí)用的生產(chǎn)型 R&S.CBT32 機(jī)架設(shè)備
. EDR 選件 (R&S.CBT-K55) 在 R&S.CBT Bluetooth. 測(cè)試儀的基礎(chǔ)上增加了大量的EDR 射頻測(cè)試。
Bluetooth. 詞語(yǔ)和徽標(biāo)由 Bluetooth. SIG, Inc.擁有,羅德與施瓦茨公司對(duì)該標(biāo)記的使用已得到許可。其他商標(biāo)和產(chǎn)品名稱(chēng)術(shù)語(yǔ)屬于相應(yīng)的產(chǎn)品擁有者。
江蘇報(bào)廢N4010A藍(lán)牙測(cè)試儀回收
藍(lán)牙測(cè)試儀 藍(lán)牙綜合測(cè)試儀  CBT測(cè)試儀 MT8852A MT8852B CBT32 MT8855A MT8860C
長(zhǎng)期回收:美國(guó)是德科技Keysight/安捷倫Agilent/惠普HP、美國(guó)泰克Tektronix、美國(guó)福祿克Fluke、美國(guó)鳥(niǎo)牌BIRD、美國(guó)艾法斯IFR/馬可尼Marconi、美國(guó)吉時(shí)利Keithley、日本日置HIOKI、日本安立Anritsu、日本愛(ài)德萬(wàn)Advantest、日本松下Panasonic、日本建伍Kenwood(現(xiàn)改為德士TEXIO)、日本菊水KIKUSUI、日本橫河YOKOGAWA、德國(guó)羅德&施瓦茨R&S、德國(guó)PROMAX、韓國(guó)泰士康TESCOM等世界。 
上海東時(shí)貿(mào)易有限公司長(zhǎng)期回收高頻二手儀器儀表:Agilent, R&S、HP、Anritsu、Advantest、MARCONI、陽(yáng)光、愛(ài)德萬(wàn)等世界的網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、藍(lán)牙測(cè)試儀,藍(lán)牙綜合測(cè)試儀,數(shù)字通訊測(cè)試儀、高頻信號(hào)源、高頻示波器、調(diào)制度儀、電聲測(cè)試儀,音頻分析儀,光類(lèi)儀器儀表,為您解決儀器閑置等問(wèn)題,使您的資金快速回籠。儀器回收,長(zhǎng)期回收電子儀器,讓你的閑置儀器變廢為寶,歡迎來(lái)電咨詢(xún)
簡(jiǎn)介編輯
藍(lán)牙測(cè)試儀,根據(jù)藍(lán)牙技術(shù)產(chǎn)生的設(shè)備。其測(cè)試范圍包括:藍(lán)牙1.1/1.2/2.0+EDR/2.1+EDR/3.0 (HS)/4.0 (LE)/5.0,以及藍(lán)牙的協(xié)議測(cè)試、音頻測(cè)試等內(nèi)容。測(cè)試結(jié)果以數(shù)據(jù)或圖形的方式表現(xiàn)出來(lái)。有些儀器具有快速測(cè)試、信號(hào)發(fā)生器等功能。
測(cè)試模式編輯
標(biāo)準(zhǔn)模式:使用全測(cè)試模式信號(hào)和所有定義測(cè)試控制以用快和有效方法對(duì)EUT進(jìn)行測(cè)試。
  單一有效負(fù)載模式:測(cè)試模組信號(hào)以受到高度限制的方式執(zhí)行,使用者可定義封包長(zhǎng)度、封包有效負(fù)載,選擇回送或TX模式或?qū)⑻l關(guān)啟和關(guān)閉。
  空封包模式:藉由在封包上執(zhí)行少數(shù)的測(cè)量子集而不使用有效負(fù)載之方式,使無(wú)測(cè)試模式支援之EUT能夠進(jìn)行測(cè)量,但所執(zhí)行之測(cè)量均不符合藍(lán)牙測(cè)試規(guī)定。
  快速模式:讓你的生產(chǎn)線能夠以「快速測(cè)試」測(cè)量腳本快速進(jìn)行,產(chǎn)品測(cè)試腳本可以?xún)H僅5秒內(nèi)完成,包括測(cè)量作用、頻率、模組和敏感度(BER)。
  單鍵操作測(cè)試:一旦設(shè)定完成,每一個(gè)儀器都可以用單鍵操作進(jìn)行測(cè)試,只要按下RUN啟動(dòng)鏈結(jié)并啟動(dòng)測(cè)試模式,即可執(zhí)行測(cè)量并報(bào)告結(jié)果。
  模式:在標(biāo)準(zhǔn)操作下,測(cè)試可以完全依藍(lán)牙RF測(cè)試規(guī)格進(jìn)行,所有的測(cè)量都符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),因此你對(duì)產(chǎn)品測(cè)試和設(shè)計(jì)檢驗(yàn)都可完全放心。
  對(duì)照藍(lán)牙:量身設(shè)計(jì)的在任何封包的起始處均可提供<1 kHz 頻率正確性,并完全符合「擾發(fā)射」敏感度性測(cè)量之規(guī)格,除了標(biāo)準(zhǔn)擾發(fā)射表外,可依載波頻率差、調(diào)變指數(shù)、符號(hào)定時(shí)錯(cuò)誤和模擬載波頻偏移以使用者設(shè)定值定做應(yīng)力情況。
其他信息編輯
遠(yuǎn)端遙控
  GPIB和RS-232介面均為標(biāo)準(zhǔn)介面,使用者可藉由送出單一命令啟動(dòng)測(cè)試和回覆測(cè)量結(jié)果之方式,因此測(cè)試程式之設(shè)計(jì)已簡(jiǎn)化。
  尺寸和重量
  由於其支架僅有一半且重量輕,因此藍(lán)牙測(cè)試儀在您的測(cè)試系統(tǒng)中僅需要極小的空間,當(dāng)藍(lán)牙界面應(yīng)用於現(xiàn)有產(chǎn)品上時(shí),它對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的干擾是小的。
  編輯測(cè)試
  定義您自己的測(cè)試腳本以完全符合您特定的測(cè)試需要,每一個(gè)測(cè)試都可啟動(dòng)或關(guān)閉,且在任何測(cè)試中,如跳頻等。均可視情況開(kāi)啟或關(guān)閉,可定義受測(cè)封包數(shù),亦可依測(cè)試設(shè)定特定的頻率。
  制造鏈結(jié)
  只要在鍵盤(pán)上輸入、執(zhí)行詢(xún)問(wèn)或使用RS232或USB HCI鏈結(jié)即可取得位址,一旦得知EUTBT位址,即可使用分頁(yè)建立藍(lán)牙鏈結(jié)。
  升級(jí)
  藍(lán)牙協(xié)定堆疊系由FPGA控管,因此未來(lái)的核心藍(lán)牙規(guī)格版本可以進(jìn)?地區(qū)性安裝,儀器的主要程式儲(chǔ)存在快閃記憶體中,因此產(chǎn)品改善亦可進(jìn)行就地升級(jí)。
  設(shè)計(jì)檢驗(yàn)
  由于測(cè)量系依據(jù)RF測(cè)試規(guī)格進(jìn)行,因此藍(lán)牙測(cè)試儀先期認(rèn)證測(cè)試和證計(jì)檢驗(yàn)上是很理想的儀器,在將你的產(chǎn)品送交藍(lán)牙許可測(cè)試機(jī)構(gòu)認(rèn)證前您可先驗(yàn)證產(chǎn)品的合格性。
常見(jiàn)故障提示編輯
Error!< GPIB test cONfig(錯(cuò)誤!<GPIB測(cè)試配置):當(dāng)一個(gè)儀器在單一測(cè)試模式下,而設(shè)定的更改或資料讀取嘗試是為另一測(cè)試進(jìn)行時(shí),即會(huì)出現(xiàn)此訊息。
  Error!< non-editable (錯(cuò)誤!<不可編輯程式) :程式1和2為出廠設(shè)定,代表一般測(cè)試要求且無(wú)法由使用者更改,若要定義你自己的程式設(shè)定,請(qǐng)使用程式3至10。
  Connection ended,low resource(連結(jié)終止,資源不足):EUT由于資源不足而終止。
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